Να στείλετε μήνυμα
Υποστηρίζεται έως και 5 αρχεία, κάθε μέγεθος 10M. Εντάξει
ZEIT Group 86-28-62156220-810 hua.du@zeit-group.com
Λάβετε προσφορά
描述
English French German Italian Russian Spanish Portuguese Dutch Greek Japanese Korean Arabic Hindi Indonesian Vietnamese Persian Polish
描述

Οπτικός εξοπλισμός δοκιμής

Λάβετε προσφορά
ποιότητας Οπτικός εξοπλισμός δοκιμής Υπηρεσία
Αρχική Σελίδα - Κατηγορίες - Οπτικός εξοπλισμός δοκιμής
Κατηγορίες

Εξοπλισμός οπτικής επίστρωσης

Οπτικός εξοπλισμός δοκιμής

Υπόστρωμα Photomask

Σύστημα μέτρησης διπλής διάθλασης

Οπτικά Στοιχεία

Εξοπλισμός εναπόθεσης ατομικού στρώματος

Μηχανή επίστρωσης Magnetron Sputtering

Εξοπλισμός ανίχνευσης ελαττωμάτων επιφάνειας

Μαγνητορεολογική Μηχανή Φινιρίσματος

Εξοπλισμός επιθεώρησης επιπεδότητας

Εξοπλισμός Επιφανειακής Επιθεώρησης

Μη τυποποιημένος εξοπλισμός

Λύσεις αυτοματοποιημένης γραμμής παραγωγής

Σύστημα παρεμβαλλόμετρων λέιζερ

Ψηφιακό Autocollimator

Φακός παρεμβαλλόμετρων

Αφήστε ένα μήνυμα

Σύνολο 1 Σελίδες
πιό πρόσφατα προϊόντα

Τα προϊόντα μας πωλούνται σε όλο τον κόσμο. Μπορείτε να είστε σίγουροι για ολόκληρη τη διαδικασία των προϊόντων μας.

  • ΚΙΝΑ Σύστημα μέτρησης διπλής διάθλασης μεγέθους τάσης Εξοπλισμός οπτικής δοκιμής σε πραγματικό χρόνο

    Σύστημα μέτρησης διπλής διάθλασης μεγέθους τάσης Εξοπλισμός οπτικής δοκιμής σε πραγματικό χρόνο

  • ΚΙΝΑ Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1,8μM

    Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1,8μM

  • ΚΙΝΑ Ανίχνευση ελαττώματος επιφάνειας επίπεδης επιφάνειας Οπτικού εξοπλισμού δοκιμής ZEIT Ανακλαστήρας σχήματος πλακέτας

    Ανίχνευση ελαττώματος επιφάνειας επίπεδης επιφάνειας Οπτικού εξοπλισμού δοκιμής ZEIT Ανακλαστήρας σχήματος πλακέτας

  • ΚΙΝΑ Μήκος κύματος λειτουργίας 633 Nm Ελεγκτής επιπεδότητας εξοπλισμού οπτικής δοκιμής

    Μήκος κύματος λειτουργίας 633 Nm Ελεγκτής επιπεδότητας εξοπλισμού οπτικής δοκιμής

  • ΚΙΝΑ Εξοπλισμός ανίχνευσης κατανομής διπλής διάθλασης μεγέθους τάσεων σε πραγματικό χρόνο

    Εξοπλισμός ανίχνευσης κατανομής διπλής διάθλασης μεγέθους τάσεων σε πραγματικό χρόνο

  • ΚΙΝΑ Εξοπλισμός συστήματος μέτρησης διπλής διάθλασης VIS 520nm 590nm 650nm

    Εξοπλισμός συστήματος μέτρησης διπλής διάθλασης VIS 520nm 590nm 650nm

  • ΚΙΝΑ Scratches Dusts Semiconductor Surface Detection Equipment 1,8μM

    Scratches Dusts Semiconductor Surface Detection Equipment 1,8μM

  • ΚΙΝΑ Εξοπλισμός οπτικής δοκιμής συστημάτων ανιχνευτών επιφάνειας ημιαγωγών 40x

    Εξοπλισμός οπτικής δοκιμής συστημάτων ανιχνευτών επιφάνειας ημιαγωγών 40x