Να στείλετε μήνυμα
ZEIT Group 86-28-62156220-810 hua.du@zeit-group.com
Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1.8μM

Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1,8μM

  • Υψηλό φως

    Οπτικός εξοπλισμός δοκιμής σκονών γρατσουνιών 1.8μM

    ,

    οπτικός εξοπλισμός δοκιμής σκονών γρατσουνιών 1.8μM

    ,

    εξοπλισμός ανιχνευτών ημιαγωγών σκονών γρατσουνιών 1.8μM

  • Μέγεθος
    1210 mm*1000mm* 1445mm, Προσαρμόσιμο
  • Εξατομικεύσιμος
    Διαθέσιμος
  • Εγγυητική περίοδος
    1 έτος ή ανά περίπτωση
  • Όροι ναυτιλίας
    Αεροπορικώς τη θάλασσα//το διασυνδεμένο τρόπο μεταφοράς, κ.λπ.
  • Τόπος καταγωγής
    Chengdu, P.R.ΚΙΝΑ
  • Μάρκα
    ZEIT
  • Πιστοποίηση
    Case by case
  • Αριθμό μοντέλου
    SDD0,5-0,5
  • Ποσότητα παραγγελίας min
    1 σετ
  • Τιμή
    Case by case
  • Συσκευασία λεπτομέρειες
    ξύλινη θήκη
  • Χρόνος παράδοσης
    Κατά περίπτωση
  • Όροι πληρωμής
    T/T
  • Δυνατότητα προσφοράς
    Κατά περίπτωση

Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1,8μM

Ανιχνευτής ατέλειας υλικής επιφάνειας ημιαγωγών

 

 

Εφαρμογές

Για τον έλεγχο διεργασίας και τη διαχείριση παραγωγής της κενής μάσκας στους τομείς της επίδειξης ημιαγωγών και

κατασκευή τσιπ ολοκληρωμένων κυκλωμάτων, χρησιμοποιούμε τις υψηλές οπτικές εξεταστικές τεχνολογίες ρυθμοαπόδοσης που κάνουν γρήγορα και

ακριβής αυτόματη ανίχνευση για τις ατέλειες επιφάνειας της κενής μάσκας. Σύμφωνα με τις επαγγελματικές ανάγκες των χρηστών,

έχουμε αναπτύξει τη σειρά υψηλών μηχανών επιθεώρησης ΜΑΣΚΩΝ ρυθμοαπόδοσης με την αξιόπιστη ποιότητα και υψηλού κόστους

αναλογία απόδοσης, για να βοηθήσει τους κατασκευαστές υποστρωμάτων, μασκών και επιτροπής γυαλιού για να προσδιορίσει και να ελέγξει τη μάσκα

οι ατέλειες, μειώνουν τον κίνδυνο παραγωγής και βελτιώνουν την ανεξάρτητη δυνατότητα Ε&Α τους για τις βασικές τεχνολογίες.

 

Αρχή εργασίας

Σε σχέση με το επίπεδο και τον τύπο ατέλειας επιφάνειας, telecentric φακού 4x, συγκεκριμένου φωτός δαχτυλιδιών γωνίας ελαφριού και ομοαξονικού

η πηγή επιλέγεται ως οπτική προσέγγιση. Όταν η συσκευή τρέχει, το δείγμα κινείται κατά μήκος του Χ

η κατεύθυνση και η ενότητα οράματος πραγματοποιούν την ανίχνευση ατέλειας κατά μήκος της κατεύθυνσης Υ.

 

Χαρακτηριστικά γνωρίσματα

 Πρότυπο  SDD0.5-0.5

 Ανίχνευση απόδοσης

 Ανιχνεύσιμος τύπος ατέλειας  Γρατσουνιές, σκόνες
 Ανιχνεύσιμο μέγεθος ατέλειας  1μm

 Ακρίβεια ανίχνευσης

(μετρημένος)

 100% ανίχνευση των ατελειών/συλλογή

ατέλειες (γρατσουνιές, σκόνη)

 Αποδοτικότητα ανίχνευσης

 ≤10 πρακτικά

(Μετρημένη αξία: 350mm X 300mm μάσκα)

 Απόδοση οπτικών συστημάτων

 Ψήφισμα  1.8μm
 Ενίσχυση  40x
 Οπτικό πεδίο  0.5mm X 0.5mm
 Μπλε ελαφρύς φωτισμός  460nm, 2.5w

 

 Απόδοση πλατφορμών κινήσεων

 

 

 Χ, κίνηση δύο-άξονα Υ

Μαρμάρινη countertop λειότητα: 2.5μm

Runout ζ-κατεύθυνσης Υ-άξονα ακρίβεια: ≤ 10.5μm

Runout ζ-κατεύθυνσης Υ-άξονα ακρίβεια: ≤8.5μm

 

Σημείωση: Προσαρμοσμένη παραγωγή διαθέσιμη.

                                                                                                                

Εικόνες ανίχνευσης

Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1,8μM 0

 

Τα πλεονεκτήματά μας

Είμαστε κατασκευαστής.

Ώριμη διαδικασία.

Απάντηση μέσα σε 24 ώρες απασχόλησης.

 

Η πιστοποίηση του ISO μας

Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1,8μM 1

 

 

Μέρη των διπλωμάτων ευρεσιτεχνίας μας

Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1,8μM 2Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1,8μM 3

 

 

Μέρη των βραβείων μας και προσόντα της Ε&Α

Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1,8μM 4Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1,8μM 5