Να στείλετε μήνυμα
ZEIT Group 86-28-62156220-810 hua.du@zeit-group.com
ZEIT Optical Testing Equipment Lamp Reflector Shape Wafer Flatness Surface Defect Detection

Ανίχνευση ελαττώματος επιφάνειας επίπεδης επιφάνειας Οπτικού εξοπλισμού δοκιμής ZEIT Ανακλαστήρας σχήματος πλακέτας

  • Υψηλό φως

    Οπτικός εξοπλισμός δοκιμής ZEIT

    ,

    Οπτική ανίχνευση ατέλειας επιφάνειας λειότητας γκοφρετών εξεταστικού εξοπλισμού ZEIT

    ,

    Οπτικός εξοπλισμός ανίχνευσης ατέλειας επιφάνειας λειότητας γκοφρετών δοκιμής ZEIT

  • Μέγεθος
    820mm*700mm*760mm, Προσαρμόσιμο
  • εξατομικεύσιμος
    Διαθέσιμος
  • Εγγυητική περίοδος
    1 έτος ή ανά περίπτωση
  • Όροι ναυτιλίας
    Αεροπορικώς τη θάλασσα//το διασυνδεμένο τρόπο μεταφοράς, κ.λπ.
  • Τόπος καταγωγής
    Chengdu, P.R.ΚΙΝΑ
  • Μάρκα
    ZEIT
  • Πιστοποίηση
    Case by case
  • Αριθμό μοντέλου
    S1200- 150
  • Ποσότητα παραγγελίας min
    1 σετ
  • Τιμή
    Case by case
  • Συσκευασία λεπτομέρειες
    ξύλινη θήκη
  • Χρόνος παράδοσης
    Κατά περίπτωση
  • Όροι πληρωμής
    T/T
  • Δυνατότητα προσφοράς
    Κατά περίπτωση

Ανίχνευση ελαττώματος επιφάνειας επίπεδης επιφάνειας Οπτικού εξοπλισμού δοκιμής ZEIT Ανακλαστήρας σχήματος πλακέτας

Δομικός ελαφρύς μεγάλος εξοπλισμός ανίχνευσης μορφής επιφάνειας μεγέθους

 

 

Εφαρμογές

Ανίχνευση μορφής ανακλαστήρων λαμπτήρων ανίχνευση λειότητας γκοφρετών ανίχνευση επιφάνειας χρωμάτων αυτοκινήτων ανίχνευση μορφής επιφάνειας φακών.

 

Αρχή εργασίας

Τα προγράμματα επίδειξης το δομημένο φως με μορφή λωρίδων, και η κάμερα συλλέγουν το δομημένο φως από μετρημένη

η επιφάνεια, το συλλεχθε'ν λωρίδα είναι παραμορφωμένη μέσω της διαμόρφωσης της μετρημένης επιφάνειας, η διανομή σύννεφων σημείου

και η διανομή κυρτότητας της μετρημένης επιφάνειας υπολογίζεται σύμφωνα με την παραμόρφωση του λωρίδας, έπειτα

η διανομή λάθους μορφής επιφάνειας μπορεί να ληφθεί με τη σύγκριση της διανομής σύννεφων σημείου με το ιδανικό πρότυπο.

 

Χαρακτηριστικά γνωρίσματα

     Πρότυπο     SI200-150
     Μέτρηση της σειράς     200×150mm2
     Εγκάρσιο ψήφισμα      Συμβατικά 0.25mm, διευθετήσιμος
     Μέτρηση της ακρίβειας      Απόλυτο σφάλμα: ±3μm (100mm στη διάμετρο)
Σημείωση: Προσαρμοσμένη παραγωγή διαθέσιμη.

                                                                                                             

Εικόνα ανίχνευσης

Ανίχνευση ελαττώματος επιφάνειας επίπεδης επιφάνειας Οπτικού εξοπλισμού δοκιμής ZEIT Ανακλαστήρας σχήματος πλακέτας 0

 

Τα πλεονεκτήματά μας

Είμαστε κατασκευαστής.

Ώριμη διαδικασία.

Απάντηση μέσα σε 24 ώρες απασχόλησης.

 

Η πιστοποίηση του ISO μας

Ανίχνευση ελαττώματος επιφάνειας επίπεδης επιφάνειας Οπτικού εξοπλισμού δοκιμής ZEIT Ανακλαστήρας σχήματος πλακέτας 1

 

 

Μέρη των διπλωμάτων ευρεσιτεχνίας μας

Ανίχνευση ελαττώματος επιφάνειας επίπεδης επιφάνειας Οπτικού εξοπλισμού δοκιμής ZEIT Ανακλαστήρας σχήματος πλακέτας 2Ανίχνευση ελαττώματος επιφάνειας επίπεδης επιφάνειας Οπτικού εξοπλισμού δοκιμής ZEIT Ανακλαστήρας σχήματος πλακέτας 3

 

 

Μέρη των βραβείων μας και προσόντα της Ε&Α

Ανίχνευση ελαττώματος επιφάνειας επίπεδης επιφάνειας Οπτικού εξοπλισμού δοκιμής ZEIT Ανακλαστήρας σχήματος πλακέτας 4Ανίχνευση ελαττώματος επιφάνειας επίπεδης επιφάνειας Οπτικού εξοπλισμού δοκιμής ZEIT Ανακλαστήρας σχήματος πλακέτας 5